鎢燈絲電鏡(Tungsten Filament Electron Microscopy，WEM)是一種常見的透射電鏡(TEM)，利用結晶或非晶樣品所產生的散射證據來分析材料結構。電子束被放射出來，經過聚焦實現功能的集成電路(ASIC)后聚焦到樣品上，然后在樣品上發生彈性和非彈性碰撞。不同反射角度的電子會產生不同強度的暗場和亮場效果，提供了微觀結構的信息。
 

　　如何使用鎢燈絲電鏡？
 

　　1.準備完整設備，將標本拍攝模塊安裝到鎢絲爐板下方。
 

　　2.使用純酸和去離子水清洗標本，防止在取樣時污染標本。
 

　　3.使用特制剪刀或者剪切機器準確切割樣品。
 

　　4.將樣品放置在聚焦棱鏡上方的夾具中。
 

　　5.封閉開口，活塞推動桿上升將樣品送入高真空殼體，然后必須密封。
 

　　6.液氮冷卻鎢絲爐達到所需溫度，減帶雜質并延長壽命。
 

　　7.確定所有的參數(如電流和衍射排除片)正確地設置。
 

　　8.通過攝像機和計算機軟件進行記錄和分析。
 

　　鎢燈絲電鏡的相關知識介紹：
 

　　1.鎢燈絲是產生電子束的源頭，它的尺寸和形狀會影響電子束的大小和聚焦度。通常使用直徑為0.3mm的鎢絲。
 

　　2.電子束可以通過電子透鏡來聚焦，從而控制電子束的直徑和密度。
 

　　3.分辨率高達0.2納米，可以觀察到大量的微觀結構和形態。由于其較高的分辨率和高質量的成像，它是物理、化學、生物領域等科學研究的重要工具之一。
 

　　4.主要用于觀察非生物樣品，如金屬材料、半導體、陶瓷、塑料等材料的結構和表面形態。同時也可用于研究納米材料、光學器件等領域。
 

　　5.鎢燈絲電鏡有兩種基本類型：透射電鏡和掃描電鏡。透射電鏡是利用電子束透過樣品來形成圖像，而掃描電鏡則是通過掃描樣品表面產生來自反射電子的信息來觀察樣品表面形貌。